CDM integréiert Déckt- a Flächendichtmesser

Uwendungen

Beschichtungsprozess: Online-Detektioun vu klenge Feature vun der Elektrod; üblech kleng Feature vun der Elektrod: Feierdagshonger (kee Leck vum Stroumkollektor, klengen Grauënnerscheed mat der normaler Beschichtungsfläch, Feeler vun der CCD-Identifikatioun), Kratzer, Déckkontur vun der Verdënnungsfläch, AT9-Décktendetektioun etc.

Schéckt eis eng E-Mail

Produktdetailer

Produkt Tags

Prinzipie vun der Miessung

Prinzipie vun der Uewerflächendichtemessung

Röntgen-β-Strahlenabsorptiounsmethod

Prinzipie vun der Décktmessung

Korrelatioun & Lasertrianguléierung

Technesch Testcharakteristike vum CDM

Szenario 1: Et gëtt eng 2 mm breet Feier/Mangel op der Elektrodenuewerfläch an eng Kant ass méi déck (blo Linn wéi hei ënnendrënner gewisen). Wann de Stralenfleck 40 mm ass, gesäit den Impakt vun der gemoossener ursprénglecher Datenform (orange Linn wéi hei ënnendrënner gewisen) däitlech méi kleng aus.

Szenario 2: Profildaten vun der dynamescher Verdënnungsfläch mat enger Datenbreet vun 0,1 mm

Software-Funktiounen

Technesch Parameteren

Numm	Indexen
Scangeschwindegkeet	0-18m/Minutt
Samplingfrequenz	Uewerflächendichte: 200 kHz; Déckt: 50 kHz
Beräich vun der Uewerflächendichtemessung	Uewerflächendichte: 10~1000 g/m²; Déckt: 0~3000 μm;
Miessungswiederholung Genauegkeet	Uewerflächendichte: 16s Integral: ±2σ: ≤±richtege Wäert * 0,2‰ oder ±0,06g/m²; ±3σ:≤±richtege Wäert * 0,25‰ oder +0,08 g/m²; 4s Integral: ±2σ: ≤±richtege Wäert * 0,4‰ oder ±0,12g/m²; ±3σ: ≤±richtege Wäert * 0,6‰ oder ±0,18 g/m²;Déckt: 10 mm Zon: ±3σ: ≤±0,3μm; 1 mm Zon: ±3σ: ≤±0,5μm; 0,1 mm Zon: ±3σ: ≤±0,8μm;
Korrelatioun R2	Uewerflächendichte >99%; Déckt >98%;
Laserpunkt	25*1400μm
Stralungsschutzklass	GB 18871-2002 nationale Sécherheetsnorm (Stralungsbefreiung)
Liewensdauer vu radioaktiven Quell	β-Strahlen: 10,7 Joer (Hallefzäit vu Kr85); Röntgenstrahlen: > 5 Joer
Reaktiounszäit vun der Messung	Uewerflächendichte < 1ms; Déckt < 0,1ms;
Gesamtleistung	<3kW